X線光電子分光法(XPS、ESCA)の原理と測定条件の設定、データ解析法【Live配信セミナー】

株式会社　技術情報協会眞田則明氏 49,500円

★試料の取り扱い、表面汚染を避けるテクニック、データ解釈など
　XPSの長所・短所、分析のコツや注意点まで実践的な分析ノウハウを学ぶ！

セミナーの対象者はこんな方です

・表面分析の基礎知識
・X線光電子分光法（XPS、ESCA）の原理
・X線光電子分光法（XPS、ESCA）の分析例と測定条件、データ解析例

会場

講師

プログラム

特典

お知らせ

開催日時

2024/12/06 (金) 12:30～ 16:30

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申込み期間

～ 2024/12/05

主催会社

株式会社　技術情報協会

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定員

30名

受講料

49,500円 (税込／各種割引については下段「お知らせ」欄をご参照ください）

開講場所

ZOOMを利用したLive配信
※会場での講義は行いません　

講師

眞田則明氏: アルバック・ファイ(株)

カリキュラム、
プログラム

表面・界面は、あらゆる固体材料・デバイスにおいて、機械的接合、電気的接合、変色、防食をはじめとする様々な機能に関与している。特にX線光電子分光法（XPS、ESCAともいう）は、固体表面数nm（数十原子層、分子層）の組成と化学状態を調べることができ、最表面および表面近傍を詳しく調べることができる手法であるが、試料の取り扱いやデータの解釈に不用意な取り扱いができない点で注意が必要である。
本講座では実践的なXPS分析のノウハウを述べるとともに、材料の分析事例を通じて、表面分析の利用のコツや考え方を明らかにする。

１．X線光電子分光法（XPS,ESCA）と表面分析の基礎
　1.1 表面数原子・数分子層の重要性
　1.2 なぜ極表面の分析や極薄膜の分析が可能になるのか?
　1.3 表面分析法の比較
　1.4 他の分析手法と比較した特徴

２．表面分析をはじめる前に
　2.1 試料の観察
　2.2 表面分析のための試料の取り扱い
　2.3 分析時の表面汚染を避けるテクニック
　2.4 粉末材料

３．X線光電子分光法（XPS,ESCA）分析の原理
　3.1 XPS分析の原理
　3.2 XPS分析の特徴
　3.3 チャージアップへの対応
　3.4 ワイドスペクトル、元素の同定
　3.5 ナロースペクトル、定量と化学状態分析
　3.6 アルゴンイオンによる深さ方向分析
　3.7 GCIB（ガスクラスターイオン）による深さ方向分析

４．データ処理
　4.1 定量計算
　4.2 定量範囲の決定
　4.3 化学状態の推定（カーブフィッティング）

５．分析条件とデータ処理の実例
　5.1 金属箔の分析
　5.2 薄膜の分析
　5.3 有機フイルムの分析
　5.4 電池材料の分析例
　5.5 触媒の分析

６．最新の測定技術
　6.1 マイクロXPS分析
　6.2 高エネルギーXPS
　6.3 紫外光電子分光（UPS）と低エネルギー逆光電子分光（LEIPS）
　6.4 オージェ電子分光法（AES）との組み合わせ

特典

セミナー資料付、質疑応答時間あり。

セミナー参加費
支払い方法

1. 銀行振込または現金書留にてお願いいたします。

2. 原則として開催日までにお願い致します。

3. 銀行振込の場合は、原則として領収証の発行は致しません。

4. 振り込み手数料はご負担ください。

お知らせ

●各種割引について
1. 同一テーマ1社2名以上同時申込の場合のみ、1名につき5,500円（税込）割引いたします。
2. 大学（教員、学生）、公的機関、医療機関の方は、アカデミック価格33,000円/1名（税込）でご参加できます。（2名同時申込割引は適用されません）
割引適用の場合は、お申し込み後、弊社より確認のご連絡を差し上げます。

●Live配信セミナーの受講について
・ Zoom公式サイトで視聴環境を確認の上、お申し込みください。
・開催日前に、視聴用URLとパスワードをメールにてご連絡申し上げます。
・セミナー配布資料は郵送いたします。お申込みが直前の場合、資料の到着が間に合わないことがあります。
・本講座で使用される資料や配信動画は著作物であり、録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止いたします。
・本講座はお申し込みいただいた方のみ受講いただけます。複数端末から同時に視聴することや複数人での視聴は禁止いたします。
・ Zoomのグループにパスワードを設定しています。部外者の参加を防ぐため、パスワードを外部に漏洩しないでください。部外者が侵入した場合は管理者側で部外者の退出あるいはセミナーを終了いたします。